Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
ALL libraries (COBIB.SI union bibliographic/catalogue database)
  • FIB-SEM nanotomografija kot metoda za napredno karakterizacijo mikrostrukturnih parametrov kermet materiala : kratko predavanje
    Skalar, Tina ; Marinšek, Marjan, kemijski inženir ; Kapun, Gregor, kemik
    Source: Knjiga povzetkov (Str. 41)
    Type of material - conference contribution
    Publish date - 2019
    Language - slovenian
    COBISS.SI-ID - 1538228931