ALL libraries (COBIB.SI union bibliographic/catalogue database)
13.
Analiza vzorcev z vrstično elektronsko mikroskopijo pri nizkih pospeševalnih napetostih
Kapun, Gregor, kemik ...
Slikanje nanomaterialov z visokoločljivimi vrstičnimi elektronskimi mikroskopije široko uporabljena metoda za karakterizacijo materialov. Kombinacija visoko kontrastnega izvora elektronov na poljsko ...emisijo in sodobnega sistema leč omogoča praktično uporabo zelo nizkih pospeševalnih napetosti primarnega elektronskega curka in posledično opazovanja lahkih nanostrukturnih objektov na neposredni površini vzorca. Korak naprej je detekcija nanokompozitnih diferenc v materialih, ki v zadnjem času kaže vse večji interes. Na tem področju odpira nove možnosti Gemini(R) tehnologija z integracijo lečnega detektorja (InLens) in energijsko selektivnega detektorja povratno sipanih elektronov (ESB) znotraj objektne leče. Uporabnost nove tehnologije smo preizkusili na različnih nanokompozitnih materialih pri vpadnih energijah elektronskega snopa med 0,8 in 3,0 keV ter varirali napetostni potencial filtrirne mrežice detektorja ESB v razponu 500 do 1500V. Na ta način smo dosegli pogoje detekcije finih kontrastnih diferenc pridobljenih le iz povratno sipanih elektronov z najmanjšo izgubo energije in zelo plitkega področja površine ter hkrati izločili vpliv neelastično sipanih elektronov iz preostanka interakcijskega volumna. Na osnovi hkratnega zajema sekundarnih in visoko energijskih odbitih elektronov ter medsebojno mešanje obeh signalov smo ustvarili posnetke s kombinacijo visoko-kontrastne topografije in kompozicijskega kontrasta. Rezultat so visokoločljivi posnetki z analitskimi informacijami na katerih so razločno vidne nanokompozicijske diference.
It was not necessary to add the material to the shelf.
Bibliographic material was successfully added on shelf.
Adding bibliographical material on shelf was not successful.
Material is already on the shelf.
Permalink
URL:
Impact factor
Access to the JCR database is permitted only to users from Slovenia. Your current IP address is not on the list of IP addresses with access permission, and authentication with the relevant AAI accout is required.
Year
Impact factor
Edition
Category
Classification
JCR
SNIP
JCR
SNIP
JCR
SNIP
JCR
SNIP
Select the library membership card:
DRS,
in which the journal is indexed
Database name
Field
Year
Links to authors' personal bibliographies
Links to information on researchers in the SICRIS system
Subject headings in COBISS General List of Subject Headings
Select pickup location
The material from the parent unit is free. If the material is delivered to the pickup location from another unit, the library may charge you for this service.
