Liang, Y.; Tvaskis, V.; Christy, M. E.; Ahmidouch, A.; Armstrong, C. S.; Arrington, J.; Asaturyan, R.; Avery, S.; Baker, O. K.; Beck, D. H.; Blok, H. P.; Bochna, C. W.; Boeglin, W.; Bosted, P.; Bouwhuis, M.; Breuer, H.; Brown, D. S.; Bruell, A.; Carlini, R. D.; Cha, J.; Chant, N. S.; Cochran, A.; Cole, L.; Danagoulian, S.; Day, D. B.; Dunne, J.; Dutta, D.; Ent, R.; Fenker, H. C.; Fox, B.; Gan, L.; Gao, H.; Garrow, K.; Gaskell, D.; Gasparian, A.; Geesaman, D. F.; Gilman, R.; Guèye, P. L. J.; Harvey, M.; Holt, R. J.; Jiang, X.; Jones, M.; Keppel, C. E.; Kinney, E.; Lorenzon, W.; Lung, A.; Mack, D. J.; Markowitz, P.; Martin, J. W.; McIlhany, K.; McKee, D.; Meekins, D.; Miller, M. A.; Milner, R. G.; Mitchell, J. H.; Mkrtchyan, H.; Mueller, B. A.; Nathan, A.; Niculescu, G.; Niculescu, I.; O'Neill, T. G.; Papavassiliou, V.; Pate, S. F.; Piercey, R. B.; Potterveld, D.; Ransome, R. D.; Reinhold, J.; Rollinde, E.; Rondon, O.; Roos, P.; Sarty, A. J.; Sawafta, R.; Schulte, E. C.; Segbefia, E.; Smith, C.; Stepanyan, S.; Strauch, S.; Tadevosyan, V.; Tang, L.; Tieulent, R.; Uzzle, A.; Vulcan, W. F.; Wood, S. A.; Xiong, F.; Yuan, L.; Zeier, M.; Zihlmann, B.; Ziskin, V.