Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
E-resources
Full text
Peer reviewed
  • Measurement of Electron-Neu...
    An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Bernardi, I.; Bock, C.; Bolozdynya, A.; Bouabid, R.; Brown, A.; Browning, J.; Cabrera-Palmer, B.; Cervantes, M.; Conley, E.; Daughhetee, J.; Detwiler, J.; Ding, K.; Durand, M. R.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Gallo Rosso, A.; Galindo-Uribarri, A.; Germer, A. C.; Green, M. P.; Hakenmüller, J.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hughes, M.; Johnson, B. A.; Johnson, T.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Kozlova, E.; Kumpan, A.; Kyzylova, O.; Li, L.; Link, J. M.; Liu, J.; Mahoney, M.; Major, A.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Mastroberti, J.; Mattingly, J.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Parno, D. S.; Penttila, S. I.; Pershey, D.; Prior, C. G.; Rapp, R.; Ray, H.; Raybern, J.; Razuvaeva, O.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Ross, J.; Rudik, D.; Runge, J.; Salvat, D. J.; Sander, J.; Scholberg, K.; Shakirov, A.; Simakov, G.; Sinev, G.; Skuse, C.; Snow, W. M.; Sosnovtsev, V.; Subedi, T.; Suh, B.; Tayloe, R.; Tellez-Giron-Flores, K.; Tsai, Y.-T.; Ujah, E.; Vanderwerp, J.; van Nieuwenhuizen, E. E.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Visser, G.; Walkup, K.; Ward, E. M.; Wongjirad, T.; Yoo, J.; Yu, C.-H.; Zawada, A.; Zettlemoyer, J.; Zderic, A.

    Physical review letters, 12/2023, Volume: 131, Issue: 22
    Journal Article