Iijima, T.; Adachi, I.; Adamczyk, K.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Ayad, R.; Babu, V.; Bakich, A. M.; Barberio, E.; Bhuyan, B.; Bozek, A.; Browder, T. E.; Chistov, R.; Cinabro, D.; Dash, N.; Di Carlo, S.; Farhat, H.; Fast, J. E.; Fulsom, B. G.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Grygier, J.; Haba, J.; Hara, K.; Hayasaka, K.; Higuchi, T.; Hou, W.-S.; Inami, K.; Jacobs, W. W.; Jin, Y.; Joffe, D.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kiesling, C.; Kim, D. Y.; Kim, J. B.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kinoshita, K.; Križan, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumar, R.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Li, C. H.; Li, L.; Li, Y.; Li Gioi, L.; Liventsev, D.; MacNaughton, J.; Masuda, M.; Miyata, H.; Mohanty, G. B.; Moon, H. K.; Mori, T.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nanut, T.; Natkaniec, Z.; Niiyama, M.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Ono, H.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Park, H.; Pesántez, L.; Piilonen, L. E.; Ritter, M.; Sandilya, S.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Shebalin, V.; Shibata, T.-A.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Starič, M.; Sumisawa, K.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Trabelsi, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Varvell, K. E.; Wang, P.; Yamashita, Y.; Ye, H.; Yelton, J.; Yuan, C. Z.; Zhulanov, V.