Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
E-resources
Peer reviewed Open access
  • Precision Measurement of th...
    Acharya, B. S.; Augsten, K.; Avila, C.; Bellantoni, L.; Bertram, I.; Bloom, K.; Boline, D.; Boos, E. E.; Borissov, G.; Bunichev, V.; Buszello, C. P.; Casey, B. C. K.; Chen, G.; Cho, S. W.; Choudhary, B.; Claes, D.; Cooper, W. E.; Corcoran, M.; Das, A.; Déliot, F.; Desai, S.; Deterre, C.; Dudko, L. V.; Duperrin, A.; Fauré, A.; Fisher, W.; Fortner, M.; Garbincius, P. H.; Garcia-Bellido, A.; García-González, J. A.; Ginther, G.; Grünewald, M. W.; Gutierrez, P.; Han, L.; Hauptman, J. M.; Head, T.; Hegab, H.; Heinson, A. P.; Hensel, C.; Hoang, T.; Hobbs, J. D.; Hogan, J.; Howley, I.; Jesik, R.; Jiang, P.; Joshi, J.; Juste, A.; Karmanov, D.; Katsanos, I.; Kermiche, S.; Kharchilava, A.; Kiselevich, I.; Kraus, J.; Kumar, A.; Kupco, A.; Lammers, S.; Li, H.; Li, L.; Lincoln, D.; Lipaev, V. V.; Liu, H.; Lobodenko, A.; Lyon, A. L.; Maciel, A. K. A.; Magaña-Villalba, R.; Malik, S.; Malyshev, V. L.; Mulhearn, M.; Neustroev, P.; Nguyen, H. T.; Osman, N.; Pal, A.; Parashar, N.; Parua, N.; Patwa, A.; Perfilov, M.; Petrillo, G.; Pleier, M.-A.; Rizatdinova, F.; Sanders, M. P.; Savitskyi, M.; Severini, H.; Shabalina, E.; Shaw, S.; Skubic, P.; Slattery, P.; Snow, J.; Sonnenschein, L.; Stoyanova, D. A.; Svoisky, P.; Van Kooten, R.; Varnes, E. W.; Vilanova, D.; Warchol, J.; Welty-Rieger, L.; Williams, M. R. J.; Yasuda, T.; Yin, H.; Zieminska, D.; Zivkovic, L.

    Physical review letters, 07/2014, Volume: 113, Issue: 3
    Journal Article