-
Scanning probe microscopy and spectroscopy : from basic research to industrial applicationsBorn, Axel ; Wiesendanger, RolandVir: Informacije MIDEM : časopis za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale = časopis za mikroelektroniku, elektronske sastavne dijelove i materijale = journal of microelectronics, electronic components and materials. - ISSN 0352-9045 (Letn. 27, št. 4, 1997, str. 246-250)Vrsta gradiva - prispevek na konferenciLeto - 1997Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 1254484
Avtor
Born, Axel |
Wiesendanger, Roland
Teme
polprevodniki |
naprave polprevodniške |
pomnilniki polprevodniški |
UHDS naprave pomnilniške gostote ultravisoke |
SPM mikroskopija s sondo vrstično |
IC vezja integrirana |
semiconductors |
semiconductor devices |
semiconductor storage devices |
UHDS devices |
SPM Scanning Probe Microscopy |
integrated circuits
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.