-
Habermas and the crisis of democracy : interviews with leading thinkersVrsta gradiva - knjiga ; neleposlovje za odrasleZaložništvo in izdelava - Abingdon ; New York : Routledge, 2022Jezik - angleškiISBN - 978-0-367-70082-9; 978-0-367-70080-5COBISS.SI-ID - 132767491
Drugi avtorji
Prattico, Emilie |
Habermas, Jürgen, 1929-
Teme
Habermas, Jürgen, 1929- |
Political and social views |
Habermas, Jürgen, 1929-.... |
Democracy |
Philosophy |
World politics |
21st century. |
Politique mondiale |
21e siècle. |
Democracy |
Philosophy |
Political and social views |
World politics |
Demokracija |
Kritična teorija |
Svetovna politika |
2000-2099
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Knjižnica/institucija |
Kraj | Akronim | Za izposojo | Druga zaloga |
---|---|---|---|---|
Slovenska akademija znanosti in umetnosti, Ljubljana | Ljubljana | SAZU |
na dom 1 izv.
|
|
FDV, Osrednja družboslovna knjižnica J. Goričarja, Ljubljana | Ljubljana | ODKLJ |
pogojno za izposojo – na dom 1 izv.
|
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Prattico, Emilie | ![]() |
Habermas, Jürgen, 1929- | ![]() |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.