Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • FIB-SEM nanotomografija kot metoda za napredno karakterizacijo mikrostrukturnih parametrov kermet materiala : kratko predavanje
    Skalar, Tina ; Marinšek, Marjan, kemijski inženir ; Kapun, Gregor, kemik
    Vir: Knjiga povzetkov (Str. 41)
    Vrsta gradiva - prispevek na konferenci
    Leto - 2019
    Jezik - slovenski
    COBISS.SI-ID - 1538228931