-
Metrology and diagnostic techniques for nanoelectronicsVrsta gradiva - zbornik ; neleposlovje za odrasleZaložništvo in izdelava - Singapore : Pan Stanford Publishing, cop. 2017Jezik - angleškiISBN - 978-981-4745-08-6; 978-981-4745-09-3COBISS.SI-ID - 38944261
Drugi avtorji
Ma, Zhiyong
Teme
materiali |
nanoelektronika |
3D nanostrukture |
karakterizacija |
metrologija |
vrstična elektronska mikroskopija |
rentgenska metrologija |
izdelava polprevodnikov |
elipsometrija |
analiza sipanja |
polprevodniške strukture |
3D-AFM |
SIMS analiza |
SSRM |
diagnostične metode |
karakterizacija mikrostrukture |
povezovalni materiali |
kemične lastnosti |
mehanske lastnosti |
mejne površine |
zanesljivost povezav |
dielektrični filmi |
karakterizacija napak |
3D elektronska tomografija |
novi materiali |
nove naprave |
magnetne nanostrukture |
spinski navor RAM |
preskušanje zanesljivosti |
nanokalorimetrične meritve |
paketne medsebojne povezave |
karakterizacija povezav |
Ramanska spektroskopija |
slikanje napak |
diagnostika tokokrogov |
avtomatizirana orodja |
razhroščevanje |
zborniki
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Knjižnica/institucija |
Kraj | Akronim | Za izposojo | Druga zaloga |
---|---|---|---|---|
Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani | Ljubljana | CTK |
na dom 1 izv.
|
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Ma, Zhiyong | ![]() |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.