-
Noise behavior of SC circuitsStarašinič, Slavko ; Trontelj, JanezNoise behavior of SC circuits is analyzed in 'z' domain using simplified noise models for MOS switches and operational amplifiers. General mathematical description of SC circuit is upgraded by noise ... properties. Technique for analyzing of noise contributions of each individual noise source and also of spectral noise density of complete SC circuit is presented.Vir: Informacije MIDEM : časopis za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale = časopis za mikroelektroniku, elektronske sastavne dijelove i materijale = journal of microelectronics, electronic components and materials. - ISSN 0352-9045 (Vol. 23, št. 2(66), 1993, str. 99-103)Vrsta gradiva - članek, sestavni delLeto - 1993Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 5262125
Avtor
Starašinič, Slavko |
Trontelj, Janez
Teme
SC vezja |
stikala MOS |
analiza |
porazdelitev šuma |
izvori šuma |
gostota spektralna |
gostota šuma |
šumi termični |
šum vzorčeni |
SC integrator |
SC circuits |
MOS switches |
noise properties |
analysis |
noise distribution |
noise sources |
spectral density |
noise density |
thermal noise |
sampled noise |
SC integrator
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.