Sodobni vrstični elektronski mikroskop na poljsko emisijo (FEG SEM) v kombinaciji z analitskima spektroskopskima tehnikama EDS in WDS omogoča precej natančno karakterizacijo mikrostrukture kovin. Na ...osnovi slike sekundarnih elektronov dobimo informacije o velikosti, obliki in porazdelitvi mikrostrukturnih elementov; na osnovi kemijske mikroanalize pa kemijsko sestavo posameznih analiziranih področij. Za popoln opis polikristalnega materiala pa je potrebno poleg tega poznati še njegovo kristalno strukturo in orientacijo teh kristalov v prostoru. To lahko dosežemo z EBSD analizo. Zaradi hitrega razvoja EBSD opreme, vse večje resolucije kamer, vedno večje hitrosti zajemanja slik, je dandanes s to tehniko mogoče analizirati faze oziroma jo lahko uporabimo za avtomatsko analizo velikosti zrn. Kadar to tehniko uporabljamo v kombinaciji s fokusiranim ionskim curkom (FIB) lahko opazuje 3D mikrostrukturo. Glavna direktna uporaba EBSD je študij: - orientacijske porazdelitve; - fazne identifikacije; - napetosti in deformacije; - splošne mikrostrukture; - kristalnih oziroma faznih mej. Te kategorije se včasih nekoliko prepletajo in nekatere od informacije[!] dobimo lahko vzporedno. V prispevku so podane osnove EBSD metode. Prikazana je geometrija analitskih instrumentov, opisano je fizikalno ozadje uklona elektronov na kristalni rešetki, podane so informacije, ki jih dobimo iz uklonske slike in možnosti, ki nam jih nudi uporaba določene programske opreme. Na posameznih izbranih primerih so prikazani in razloženi rezultati EBSD analiz. V prispevku je prikazana teksturna analiza elektropločevine in duplex jekla. Nadalje so podani rezultati fazne analize Finmet prahov. Podrobno pa je prikazana fazna analiza karbidov v različnih orodnih in hitroreznih jeklih.
Bibliografsko gradivo je bilo uspešno dodano na polico.
Dodajanje bibliografskega gradiva na polico ni uspelo.
Gradivo je že na polici.
Trajna povezava
URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto
Faktor vpliva
Izdaja
Kategorija
Razvrstitev
JCR
SNIP
JCR
SNIP
JCR
SNIP
JCR
SNIP
Izberite knjižnično izkaznico:
Baze podatkov,
v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov
Področje
Leto
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev
Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Citiranje
Funkcionalnost trenutno ni na voljo. Prosimo, poskusite kasneje.
