-
The microscopic model of Fermi level pinning in ionized cluster beam deposited Ag/n-Si Schottky structuresKorošak, Dean ; Cvikl, BrunoAt metal-semiconductor interfaces, the Fermi level is usually "pinned" in the bandgap. Schottky barriers of Ag/n-Si structures deposited by the ionized cluster beam (ICB) technique show a similar ... Fermi level pinning behaviour with respect to the metal atom acceleration voltage. We propose a simple model for the density of interface states at the disordered interface in an ICB Schottky structure. The Fermi level position inside the semiconductor bandgap is calculated as a function of increasing disorder.Vir: Vacuum. - ISSN 0042-207X (Vol. 61, 2001, str. 349-353)Vrsta gradiva - članek, sestavni delLeto - 2001Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 6546966
Avtor
Korošak, Dean |
Cvikl, Bruno
Teme
fizika |
novi materiali |
polprevodniki |
vakuumska tehnika |
tanke plasti |
nanos |
curek ioniziranih delcev |
ICB |
Schottky |
Greenove funkcije |
physics |
new materials |
semiconductors |
vacuum techniques |
thin layers |
deposition |
ionized cluster beams |
ICB |
Fermi level pinning |
Schottky barrier |
Green functions |
tight binding approximation
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Korošak, Dean | 15413 |
Cvikl, Bruno | 01048 |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.