Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • Adaptivna metoda merjenja statičnih karakteristik elektronskih komponent in njena realizacija z virtualnim instrumentom
    Mohorko, Jože ; Mikola, Ladislav
    V članku opisujemo računalniško podprt postopek določanja statičnih l - U karakteristik elektronskih elementov. Osnovna kriterija izbire števila merilnih točk na karakteristiki sta hitrost meritve in ... zveznost izmerjene karakteristike, ki pa sta protislovna. Postopek temelji na adaptivni metodi izbiranja omejenega števila maksimalne merilnih točk tako, da so enakomerno razporejene po kakrakteristiki, brez vnaprejšnjega poznavanja lastnosti merjenca, ob omejitvah dovoljene moči, toka in napetosti. Realiziran je v obliki virtualnega instrumenta v programskem okolju LabView firme National Instruments. Rezultati meritev statičnih karakteristik različnih tipov merjencev, kot so: upor, dioda, tranzistor, zener dioda in tristor, potrjujejo uspešnost predstavljene metode tudi v primerih izbire dokaj malega števila merilnih točk (10-15).
    Vir: Informacije MIDEM : časopis za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale = časopis za mikroelektroniku, elektronske sastavne dijelove i materijale = journal of microelectronics, electronic components and materials. - ISSN 0352-9045 (Letn. 31, št. 3, 2001, str. 178-184)
    Vrsta gradiva - članek, sestavni del
    Leto - 2001
    Jezik - slovenski
    COBISS.SI-ID - 6756886

    Povezava(-e):

    Digitalna knjižnica Slovenije - dLib.si

Vnos na polico