VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
-
Study of interfacial reactions between Si thin film and GaN substrate by synchrotron radiationKovač, Janez, 1965- ; Vesel, Alenka ; Zalar, AntonWide-band gap GaN semiconductor has been used to fabricate efficient blue-green light emittin diodes, laser diodes and high powerfull/high temperature electronic devices since many problems regarding ... long-life characteristics were resolved in the last years. However, the lack of suitable substrate which is lattice matched and thermaly compatible wit GaN has still hindered the growth of high-quality GaN films. The potential of integration of GaN with well-established Si-based microelectronics technology motivated us to study the GaN-Si interactions. Oposite to conventiona approach in other studies, where GaN films are prepared on Si substrate, we deposited thin Si film on GaN substrate. Scanning photoemission microscopy with sinchrothron radiation from Elettra light source has been used to study interface between the Si thin films in a form of latterally confined patch and the GaN substrate. We followed the evolution of Si 2p, Ga 3d and N 1s spectra as a function of temperature. The interfacial reactions, morphology, phase composition and electronic properties at the Si-GaN interface were studied after stepwise annealing up to 900°C. Our results reveal about 700°C the reaction of N wit Si to form silicon nitride.Vir: Proceedings (Str. 107-112)Vrsta gradiva - prispevek na konferenci ; neleposlovje za odrasleLeto - 2002Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 67810
Avtor
Kovač, Janez, 1965- |
Vesel, Alenka |
Zalar, Anton
Teme
GaN |
Si |
fazna meja |
sinhrotron |
GaN |
Si |
interface |
synchrotron
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Kovač, Janez, 1965- | 15703 |
Vesel, Alenka | 20048 |
Zalar, Anton | 01741 |
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Naslov za dostavo:
Med podatki člana manjka naslov.
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Rezervacija v teku
Prosimo, počakajte trenutek.
Rezervacija je uspela.
Rezervacija ni uspela.
Rezervacija...
Članska izkaznica:
Mesto prevzema: