Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • IBA & PIXE 2023 : 26th International Conference on Ion Beam Analysis [and] 18th International Conference on Particle Induced X-ray Emission : [abstract book] : 7-13th/Oct/2023, Toyama
    International Conference on Ion Beam Analysis (26 ; 2023 ; Toyama); International Conference on Particle Induced X-ray Emission (18 ; 2023 ; Toyama)
    Vrsta gradiva - knjiga ; neleposlovje za odrasle
    Založništvo in izdelava - [S. l. : s. n., 2023]
    Jezik - angleški
    COBISS.SI-ID - 172801795

Nobena knjižnica v sistemu COBISS.SI nima izvoda tega gradiva.
loading ...
loading ...
loading ...