Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
Institut Jožef Stefan, Ljubljana (IJS)
  • The certification of 100 mm diameter silicon resistivity SRMs 2541 through 2547 using dual-configuration four-point probe measurements
    Ehrstein, James R. ; Croarkin, M. Carroll
    Vrsta gradiva - standard ; neleposlovje za odrasle
    Založništvo in izdelava - Washington : National Institute of Standards and Technology, 1997
    Jezik - angleški
    COBISS.SI-ID - 13019175

Rezervirajte gradivo na želenem mestu prevzema.

Mesto prevzema Status gradiva Rezervacija
Institut Jožef Stefan, Ljubljana
prosto - na dom, čas izposoje: 1 mes.
Signatura – lokacija, inventarna št. ... Status izvoda
0000000960/SP 260-131
IN: 019980160
960/SP 260-131
IN: 019980160
prosto - na dom, čas izposoje: 1 mes.
loading ...
loading ...
loading ...