Institut Jožef Stefan, Ljubljana (IJS)
-
Artefact formation in scanning photoelectron emission microscopyGünther, Sebastian ...The fast developing analytical technique, synchrotron radiation scanning photoemission spectromicroscopy has opened the opportunity for probing surface processes and composition of materials on a ... submicron spatial scale. Here we describe some artefact and unforeseen phenomena that can occur when a photon flux with high intensity is focused onto a microspot. Using as examples selected data obtained recently with the scanning photoemission microscope built at the ultrabright synchrotron source ELETTRA we illustrate the possible effects of surface morphology and undesired processes, such as photon-assisted carbon deposition, heat dissipation, charging and photon-induced reduction of the sample. All these events can cause severe changes in the chemical maps and photoelectron spectra and provide misleading results. The physical nature of the artefacts are outlined and discussed, as well as the possibilities to reduce their influence or to use them for quantification of some photon-induced phenomena becoming important in spectromicroscopy experiments carried out at the third generation synchrotron sources.Vir: Ultramicroscopy. - ISSN 0304-3991 (Vol. 75, 1998, str. 35-51)Vrsta gradiva - članek, sestavni del ; neleposlovje za odrasleLeto - 1998Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 28898
Avtor
Günther, Sebastian |
Kolmakov, Andrej |
Kovač, Janez, 1965- |
Kiskinova, Maya
Teme
spektromikroskopija |
inducirani pojavi s fotoni |
vrstična fotoemisijska mikroskopija |
sinhrotronska svetloba |
spectromicroscopy |
photon-induced phenomena |
scanning photoemission microscopy |
synchrotron radiation
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Kovač, Janez, 1965- | 15703 |
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Naslov za dostavo:
Med podatki člana manjka naslov.
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Rezervacija v teku
Prosimo, počakajte trenutek.
Rezervacija je uspela.
Rezervacija ni uspela.
Rezervacija...
Članska izkaznica:
Mesto prevzema: