Inštitut za kovinske materiale in tehnologije, Ljubljana (IMTLJ)
-
Ion sputtering rates for thin oxide layer on duplex steel at different 3 keV Ar[sup]3 incidence anglesHren, Denis ; Mandrino, Djordje ; Jenko, Monika, 1947-Thin oxide layer of several tens of nm was deposited onto duplex steel substrate by plasma oxidation. SEM image of the cross section was used to determine the thickness of the layer directly. Sample ... in sample holder was mounted onto the sample stage of the high resolution Auger spectroscopy apparatus equipped with a fixed ion gun. Simple depth profiling at well defined ion beam parameters was performed until substrate was reached. Then unsputtered area of the sample was chosen, sample was tilted to change the incidence angle (defined as the angle between the ion beam and normal to the sample surface) and depth profiling repeated at identical ion beam parameters as previously. Total sputtering time in each case is inversely proportional to the sputtering rate. To increase the range of possible incidence angles from approximately 45-70° defined by geometrical and engineering constraints a sample holder with tilted upper surface was manufactured to make use of another degree of freedom available from the sample stage; azimuthal rotation. In this manner, virtually all incidence angles from 0 to 90 ° became available. Measurements showed sputtering rate to be angle dependant, smaller values being located towards grazing angles and normal incidence with broad maximum in-between.Vir: Program in knjiga povzetkov = Program and book of abstracts (str. 70)Vrsta gradiva - prispevek na konferenciLeto - 2008Jezik - angleški, slovenskiCOBISS.SI-ID - 704682
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Hren, Denis | 20660 |
Mandrino, Djordje | 08850 |
Jenko, Monika, 1947- | 05675 |
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Naslov za dostavo:
Med podatki člana manjka naslov.
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Rezervacija v teku
Prosimo, počakajte trenutek.
Rezervacija je uspela.
Rezervacija ni uspela.
Rezervacija...
Članska izkaznica:
Mesto prevzema:
zato vas vljudno prosimo, da nas glede knjižničnega gradiva predhodno kontaktirate na e-mail:
knjiznica@imt.si
Hvala za razumevanje!
Knjižnica IMT