-
Comparison of PIXE, AAS, ICP-MS and NAA for determination of metals in paperŠelih, Vid Simon ...Vir: Conference proceedings [Elektronski vir] (3 str.)Vrsta gradiva - prispevek na konferenciLeto - 2004Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 25937669
Avtor
Šelih, Vid Simon |
Strlič, Matija |
Kolar, Jana |
Budnar, Miloš |
Simčič, Jurij |
Jaćimović, Radojko |
Veber, Marjan, kemik
Teme
analizna kemija |
analitska kemija |
kemijska analiza |
spektralna analiza |
določevanje kovinskih ionov |
PIXE metoda |
AAS |
ICP-MS |
NAA |
primerjava analiznih metod |
papir |
kovinski ioni
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Šelih, Vid Simon | 23492 |
Strlič, Matija | 15670 |
Kolar, Jana | 11071 |
Budnar, Miloš | 01109 |
Simčič, Jurij | 18891 |
Jaćimović, Radojko | 14082 |
Veber, Marjan, kemik | 06117 |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.