-
Photonic instrumentation : sensing and measuring with lasersDonati, SilvanoVrsta gradiva - knjiga ; neleposlovje za odrasleIzdaja - 2nd ed.Založništvo in izdelava - Boca Raton ; Abingdon : CRC Press, Taylor & Francis, 2023Jezik - angleškiISBN - 978-1-032-46932-4; 978-1-032-48906-3COBISS.SI-ID - 170750211
Avtor
Donati, Silvano
Teme
Optoelectronic devices |
Electrooptical devices |
Lasers |
Measuring instruments |
Engineering instruments |
Scientific apparatus and instruments |
Merilni instrumenti |
Elektrotehnika |
Mesure |
Instruments |
Ingénierie |
Instruments |
Appareils et instruments scientifiques |
elektronika |
laserji |
merilne tehnike |
občutljivost |
detektorji |
telemetrija |
laserski interferometri |
velocimetrija |
optični senzorji |
giroskopi |
analizatorji |
pegasti vzorci |
optična vlakna
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Knjižnica | Signatura – lokacija, inventarna št. ... | Status izvoda |
---|---|---|
Univerzitetna knjižnica Maribor | Prosti pristop 2. nad. 621.317 296077 |
prosto - na dom, čas izposoje: 1 mes. |
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Donati, Silvano | ![]() |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.