-
Scanning Probe Microscopy [Elektronski vir] : Atomic Scale Engineering by Forces and CurrentsFoster, Adam ; Hofer, WernerVrsta gradiva - e-knjiga ; neleposlovje za odrasleZaložništvo in izdelava - New York (NY) : Springer, 2006Jezik - angleškiISBN - 978-0-387-37231-0COBISS.SI-ID - 31751941
Povezava(-e):
SpringerLink e-books 2005-2007Celotno besedilo dostopno za uporabnike SpringerLink slovenskega konzorcija neprofitnih institucij: UL, UM, UNG, UP, KI, IJS, OILJ, ZRC SAZU, SBCE, UKCMB, KIS.
Full text accessible to the users of SpringerLink Slovenian Consortium of Non-Profit Institutions UL, UM, UNG, UP, KI, IJS, OILJ, ZRC SAZU, SBCE, UKCMB, KIS.
DOI
Avtor
Foster, Adam |
Hofer, Werner
Drugi avtorji
SpringerLink |
Online service
Zbirka
NanoScience and Technology
Teme
Materials |
Microscopy |
Molecular structure |
Nanotechnology |
Particles (Nuclear physics) |
Surfaces (Physics) |
Chemistry |
Atomic and Molecular Structure and Spectra |
Biological Microscopy |
Characterization and Evaluation Materials |
Solid State Physics and Spectroscopy |
Surfaces and Interfaces, Thin Films
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.