-
Film studies : critical approachesVrsta gradiva - zbornik ; neleposlovje za odrasleIzdaja - ReprintedZaložništvo in izdelava - Oxford ; New York : Oxford University Press, 2009Jezik - angleškiISBN - 978-0-19-874280-7COBISS.SI-ID - 512515968
Drugi avtorji
Hill, W. John |
Gibson, Pamela Church
Teme
Film criticism |
Motion pictures |
Motion pictures |
Study and teaching |
teorija filma |
filmske študije |
filozofija filma |
hermenevtika |
filmska interpretacija |
sociologija filma |
filmska estetika |
teoretske smeri |
klasični film |
formalizem |
neo-formalizem |
impresionizem |
nadrealizem |
psihoanaliza |
post-strukturalizem |
dekonstrukcija |
postmodernizem |
marksizem in film |
feminizem in film |
gejevski kriticizem |
kulturna identiteta |
pornografija |
filmske forme |
filmski postopki |
zborniki
Rezervirajte gradivo na želenem mestu prevzema.
Mesto prevzema |
Status gradiva | Rezervacija |
---|---|---|
Univerzitetna knjižnica |
prosto - na dom, čas izposoje: 21 dni
|
Signatura – lokacija, inventarna št. ... |
Status izvoda |
---|---|
Univerzitetna knjižnica 791/792 FILM studies IN: 02000008004 Univerzitetna knjižnica 791/792 FILM studies IN: 02000008004 |
prosto - na dom, čas izposoje: 21 dni
|
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Hill, W. John | |
Gibson, Pamela Church |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.