-
Adhezija bakterije Streptococcus mutans na cirkonijev oksid z dodatki : diplomsko delo = Adhesion of the bacteria Streptococcus mutans on zirconium oxide with additives : diploma workStaver, LanaVrsta gradiva - diplomsko delo ; neleposlovje za odrasleZaložništvo in izdelava - Ljubljana : [L. Staver], 2021Jezik - slovenskiCOBISS.SI-ID - 78949891
Avtor
Staver, Lana
Drugi avtorji
Bohinc, Klemen, 1970- |
Abram, Anže, 1986- |
Rojko, Franc, 1960- |
Bohinc, Peter, 1976-
Teme
diplomska dela |
laboratorijska zobna protetika |
Y-TZP |
Streptococcus mutans |
adhezija bakterij |
fizikalne lastnosti |
diploma theses |
laboratory dental prosthetics |
Y-TZP |
Streptococcus mutans |
bacterial adhesion |
physical properties
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Signatura – lokacija, inventarna št. ... |
Status izvoda | Rezervacija |
---|---|---|
K LZP1 0000008327 K LZP1 8327 |
prosto - za čitalnico
|
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Staver, Lana | ![]() |
Bohinc, Klemen, 1970- | 15647 |
Abram, Anže, 1986- | 35460 |
Rojko, Franc, 1960- | 40434 |
Bohinc, Peter, 1976- | 40658 |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.