Grauges, E.; Palano, A.; Eigen, G.; Stugu, B.; Brown, D. N.; Kerth, L. T.; Lynch, G.; Khan, A.; Druzhinin, V. P.; Kravchenko, E. A.; Yushkov, A. N.; Bondioli, M.; Long, O.; Richman, J. D.; West, C. A.; Lockman, W. S.; Martinez, A. J.; Seiden, A.; Chao, D. S.; Ongmongkolkul, P.; Rakitin, A. Y.; Ayad, R.; Schwierz, R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Playfer, S.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Luppi, E.; Finocchiaro, G.; Patteri, P.; Piccolo, M.; Contri, R.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Bhuyan, B.; Prasad, V.; Morii, M.; Uwer, U.; Prell, S.; Rubin, A. E.; Arnaud, N.; Davier, M.; Derkach, D.; Wright, D. M.; Hutchcroft, D. E.; Sigamani, M.; Davis, C. L.; Behn, E.; Cenci, R.; Cowan, R.; Sonnek, P.; Summers, D. J.; Simard, M.; Taras, P.; De Nardo, G.; Monorchio, D.; Morandin, M.; Akar, S.; Ben-Haim, E.; Briand, H.; Hamon, O.; Marchiori, G.; Sitt, S.; Carpinelli, M.; Forti, F.; Lusiani, A.; Lopes Pegna, D.; Olsen, J.; Ferroni, F.; Bünger, C.; Voss, C.; Hamel de Monchenault, G.; Aston, D.; Bard, D. J.; Bartoldus, R.; Convery, M. R.; Field, R. C.; Franco Sevilla, M.; Gabareen, A. M.; Kelsey, M. H.; Kim, P.; Leith, D. W. G. S.; Muller, D. R.; Neal, H.; Snyder, A.; Sullivan, M. K.; Wagner, A. P.; Wisniewski, W. J.; Miyashita, T. S.; Ernst, J. A.; Gorodeisky, R.; Spanier, S. M.; Ruland, A. M.; Izen, J. M.; Gamba, D.; Oyanguren, A.; Lewczuk, M. J.; Sobie, R. J.; Pan, Y.