Pandey, B.; Tang, L.; Gogami, T.; Suzuki, K. N.; Itabashi, K.; Nagao, S.; Okuyama, K.; Nakamura, S. N.; Abrams, D.; Afnan, I. R.; Akiyama, T.; Androic, D.; Aniol, K.; Averett, T.; Ayerbe Gayoso, C.; Bane, J.; Barcus, S.; Barrow, J.; Bellini, V.; Bhatt, H.; Bhetuwal, D.; Biswas, D.; Camsonne, A.; Castellanos, J.; Chen, J-P; Chen, J.; Covrig, S.; Chrisman, D.; Cruz-Torres, R.; Das, R.; Fuchey, E.; Gal, C.; Gibson, B. F.; Gnanvo, K.; Garibaldi, F.; Gautam, T.; Gomez, J.; Gueye, P.; Hague, T. J.; Hansen, O.; Henry, W.; Hauenstein, F.; Higinbotham, D. W.; Hyde, C.; Kaneta, M.; Keppel, C.; Kutz, T.; Lashley-Colthirst, N.; Li, S.; Liu, H.; Mammei, J.; Markowitz, P.; McClellan, R. E.; Meddi, F.; Meekins, D.; Michaels, R.; Mihovilovič, M.; Moyer, A.; Nguyen, D.; Nycz, M.; Owen, V.; Palatchi, C.; Park, S.; Petkovic, T.; Premathilake, S.; Reimer, P. E.; Reinhold, J.; Riordan, S.; Rodriguez, V.; Samanta, C.; Santiesteban, S. N.; Sawatzky, B.; Širca, S.; Slifer, K.; Su, T.; Tian, Y.; Toyama, Y.; Uehara, K.; Urciuoli, G. M.; Votaw, D.; Williamson, J.; Wojtsekhowski, B.; Wood, S.; Yale, B.; Ye, Z.; Zhang, J.; Zheng, X.