Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Double-weak decays of Xe 12...
    Aprile, E.; Abe, K.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Antón Martin, D.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Brown, A.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Cai, C.; Clark, M.; Colijn, A. P.; Decowski, M. P.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Farrell, S.; Ferella, A. D.; Gaior, R.; Gallo Rosso, A.; Galloway, M.; Glade-Beucke, R.; Grigat, J.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Joy, A.; Kato, N.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Liu, K.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Marignetti, F.; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, E.; Mastroianni, S.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Ni, K.; Oberlack, U.; Paetsch, B.; Palacio, J.; Peres, R.; Plante, G.; Ramírez García, D.; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Sanchez, L.; dos Santos, J. M. F.; Sarnoff, I.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schulze Eißing, H.; Schumann, M.; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Shockley, E.; Silva, M.; Takeda, A.; Tan, P.-L.; Terliuk, A.; Thers, D.; Trinchero, G.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wolf, T.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Zavattini, G.; Zerbo, S.

    Physical review. C, 8/2022, Letnik: 106, Številka: 2
    Journal Article