Single Event Effects Tests on the Actel RTAX2000S FPGA :: COBISS+

Ta stran uporablja JavaScript. Vaš brskalnik ne podpira JavaScripta ali pa je ta izklopljen. Če želite stran pravilno prikazati, uporabite brskalnik, ki podpira JavaScript.

E-viri

13.

Celotno besedilo

Single Event Effects Tests on the Actel RTAX2000S FPGA

George, J.S.; Koga, R.; Zakrzewski, M.

2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop, 2009-July

Conference Proceeding

We present new single event effects testing results for the RTAX2000S field-programmable-gate-array. We tested sequential and combinational logic structures, input/output blocks, and embedded RAM with ions and protons.

Išči dalje

Avtor

George, J.S. | Koga, R. | Zakrzewski, M.

Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.

Leto	Faktor vpliva		Izdaja		Kategorija		Razvrstitev
Leto	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP

Povezave do osebnih bibliografij avtorjev	Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS

Vir: Osebne bibliografije in: SICRIS