Synergistic Effects of Total Ionizing Dose on SEU Sensitive SRAMs

E-viri

Synergistic Effects of Total Ionizing Dose on SEU Sensitive SRAMs

Koga, R.; Yu, P.; Crawford, K.; George, J.; Zakrzewski, M.

2009 IEEE Radiation Effects Data Workshop, 2009-July

Conference Proceeding

Synergistic effects of total ionizing dose and particle fluence on SEU sensitivity of static random access memories have been investigated. The memory imprint effect has been observed to yield varying results.

Išči dalje

Avtor

Koga, R. | Yu, P. | Crawford, K. | George, J. | Zakrzewski, M.

Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.

Leto	Faktor vpliva		Izdaja		Kategorija		Razvrstitev
Leto	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP

Povezave do osebnih bibliografij avtorjev	Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS

Vir: Osebne bibliografije in: SICRIS

Naloži sliko

Vnos na polico

Dodajanje gradiva na polico je uspelo.

Dodajanje gradiva na polico je spodletelo.

Dodajanje gradiva na polico ni bilo potrebno.

Trajna povezava

E-pošta

Faktor vpliva

Izberite knjižnično izkaznico:

Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana

Citiranje

Tema