E-viri
-
Veksler, D.; Bersuker, G.; Bushmaker, A. W.; Shrestha, P. R.; Cheung, K. P.; Campbell, J. P.
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019-MarchConference Proceeding
Switching variability in polycrystalline compliance-free HfO 2 -based 1R RRAM is evaluated employing ultra-fast low voltage pulse approach. Changes in filament conductivity are linked to the variations of energy consumed in a switching process. This study indicates that variability is reduced (suppressed) in more resistive filaments.
Avtor
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.