E-viri
Recenzirano
-
Kharlamov, P. I.; Shitenkov, M. O.; Dementev, D. V.; Leontyev, V. V.; Merkin, M. M.
Instruments and experimental techniques (New York), 06/2022, Letnik: 65, Številka: 3Journal Article
A setup for conducting channel-by-channel testing and calibration of microstrip silicon detectors using collimated laser pulses is described. A feature of this setup is the use of an infrared laser diode to simulate a signal from the passage of a charged particle through the detector substance. A system of lenses makes it possible to obtain a transverse beam size of up to 5 μm, which, in combination with the use of a precision stepper motor, allows testing of each detector channel in an automatic mode. The operation of the system on modules of the BM@N silicon track system is demonstrated.
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.