Total reflection X-ray photoelectron spectroscopy: A review

E-viri

Recenzirano

Total reflection X-ray photoelectron spectroscopy: A review

Kawai, Jun

Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 05/2010, Letnik: 178

Journal Article

Total reflection X-ray photoelectron spectroscopy (TRXPS) is reviewed and all the published papers on TRXPS until the end of 2009 are included. Special emphasis is on the historical development. Applications are also described for each report. The background reduction is the most important effect of total reflection, but interference effect, relation to inelastic mean free path, change of probing depth are also discussed.

Išči dalje

Avtor

Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.

Leto	Faktor vpliva		Izdaja		Kategorija		Razvrstitev
Leto	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP

Povezave do osebnih bibliografij avtorjev	Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS

Vir: Osebne bibliografije in: SICRIS

Naloži sliko

Vnos na polico

Dodajanje gradiva na polico je uspelo.

Dodajanje gradiva na polico je spodletelo.

Dodajanje gradiva na polico ni bilo potrebno.

Trajna povezava

E-pošta

Faktor vpliva

Izberite knjižnično izkaznico:

Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana

Citiranje

Tema