Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
E-viri
Recenzirano Odprti dostop
  • Measurement of D 0 → π l ν ...
    Abe, K.; Adachi, I.; Aihara, H.; Arinstein, K.; Asano, Y.; Bakich, A. M.; Balagura, V.; Barbero, M.; Bay, A.; Bedny, I.; Belous, K.; Bitenc, U.; Bizjak, I.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Chang, P.; Chen, A.; Chen, W. T.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Drutskoy, A.; Gabyshev, N.; Garmash, A.; Gershon, T.; Golob, B.; Ha, H.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hazumi, M.; Hoshi, Y.; Hou, S.; Hou, W.-S.; Ikado, K.; Imoto, A.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Kakuno, H.; Kang, J. H.; Kapusta, P.; Kataoka, S. U.; Kawai, H.; Kawasaki, T.; Khan, H. R.; Kim, H. O.; Kinoshita, K.; Kuo, C. C.; Kwon, Y.-J.; Lange, J. S.; Leder, G.; Lesiak, T.; Li, J.; Limosani, A.; Lin, S.-W.; Majumder, G.; Matsumoto, T.; Matyja, A.; McOnie, S.; Mitaroff, W.; Miyata, H.; Mohapatra, D.; Nakamura, I.; Natkaniec, Z.; Nishida, S.; Nitoh, O.; Ogawa, S.; Okuno, S.; Olsen, S. L.; Piilonen, L. E.; Sakai, Y.; Satoyama, N.; Sayeed, K.; Schietinger, T.; Schneider, O.; Schwartz, A. J.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shwartz, B.; Stamen, R.; Stanič, S.; Starič, M.; Suzuki, S. Y.; Takasaki, F.; Tanaka, M.; Teramoto, Y.; Tian, X. C.; Uglov, T.; Ueno, K.; Urquijo, P.; Villa, S.; Wang, M.-Z.; Watanabe, Y.; Yabsley, B. D.; Yamaguchi, A.; Yamashita, Y.; Yamauchi, M.; Ying, J.; Zhang, L. M.

    Physical review letters, 08/2006, Letnik: 97, Številka: 6
    Journal Article