Abe, S.; Ebihara, T.; Enomoto, S.; Furuno, K.; Gando, Y.; Ichimura, K.; Ikeda, H.; Inoue, K.; Kibe, Y.; Kishimoto, Y.; Koga, M.; Shimizu, Y.; Kozlov, A.; Minekawa, Y.; Mitsui, T.; Nakajima, K.; Nakamura, K.; Nakamura, M.; Owada, K.; Shimizu, I.; Shirai, J.; Suekane, F.; Suzuki, A.; Takemoto, Y.; Tamae, K.; Terashima, A.; Watanabe, H.; Yonezawa, E.; Yoshida, S.; Busenitz, J.; Classen, T.; Grant, C.; Keefer, G.; Leonard, D. S.; McKee, D.; Piepke, A.; Decowski, M. P.; Detwiler, J. A.; Freedman, S. J.; Fujikawa, B. K.; Gray, F.; Guardincerri, E.; Hsu, L.; Kadel, R.; Lendvai, C.; Luk, K.-B.; Murayama, H.; O’Donnell, T.; Steiner, H. M.; Winslow, L. A.; Dwyer, D. A.; Jillings, C.; Mauger, C.; McKeown, R. D.; Vogel, P.; Zhang, C.; Berger, B. E.; Lane, C. E.; Maricic, J.; Miletic, T.; Batygov, M.; Learned, J. G.; Matsuno, S.; Pakvasa, S.; Foster, J.; Horton-Smith, G. A.; Tang, A.; Dazeley, S.; Downum, K. E.; Gratta, G.; Tolich, K.; Bugg, W.; Efremenko, Y.; Kamyshkov, Y.; Perevozchikov, O.; Karwowski, H. J.; Markoff, D. M.; Tornow, W.; Heeger, K. M.; Piquemal, F.; Ricol, J.-S.