E-viri
Recenzirano
Odprti dostop
-
Abrahamyan, S.; Albataineh, H.; Aniol, K.; Armstrong, D. S.; Armstrong, W.; Averett, T.; Beminiwattha, R.; Benesch, J.; Benmokhtar, F.; Boeglin, W.; Camsonne, A.; Canan, M.; Carter, P.; Cates, G. D.; Chen, C.; Hen, O.; Cusanno, F.; Dalton, M. M.; De Leo, R.; de Jager, K.; Decowski, P.; Deng, X.; Deur, A.; Dutta, D.; Etile, A.; Flay, D.; Friend, M.; Frullani, S.; Gasser, E.; Giusa, A.; Gomez, J.; Grames, J.; Hansknecht, J.; Higinbotham, D. W.; Holmes, R. S.; Holmstrom, T.; Horowitz, C. J.; Hoskins, J.; Huang, J.; Hyde, C. E.; Itard, F.; Jen, C.-M.; Jensen, E.; Jin, G.; Kelleher, A.; Kliakhandler, K.; King, P. M.; Kowalski, S.; Kumar, K. S.; Leckey, J.; Lee, J. H.; LeRose, J. J.; Lindgren, R.; Liyanage, N.; Mammei, J.; Mammoliti, F.; Margaziotis, D. J.; McCreary, A.; McNulty, D.; Mercado, L.; Meziani, Z.-E.; Michaels, R. W.; Muangma, N.; Nanda, S.; Nelyubin, V.; Oh, Y.; Parno, D.; Paschke, K. D.; Phillips, S. K.; Poelker, B.; Puckett, A. J. R.; Quinn, B.; Ron, G.; Russo, G.; Saenboonruang, K.; Saha, A.; Sawatzky, B.; Shahinyan, A.; Silwal, R.; Sirca, S.; Sperduto, M. L.; Subedi, R.; Suleiman, R.; Sulkosky, V.; Sutera, C. M.; Troth, W.; Urciuoli, G. M.; Waidyawansa, B.; Wang, D.; Wilson, R.; Wojtsekhowski, B.; Yan, X.; Yao, H.; Ye, Y.; Yim, V.; Zana, L.; Zhang, J.; Zhang, Y.; Zheng, X.; Zhu, P.
Physical review letters, 03/2012, Letnik: 108, Številka: 11Journal Article
Avtor
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.