Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
E-viri
  • Measurement of Electron Neu...
    Wolcott, J.; Aliaga, L.; Altinok, O.; Bellantoni, L.; Bercellie, A.; Betancourt, M.; Bodek, A.; Bravar, A.; Budd, H.; Cai, T.; Carneiro, M. F.; Chvojka, J.; da Motta, H.; Devan, J.; Dytman, S. A.; Díaz, G. A.; Eberly, B.; Felix, J.; Fields, L.; Fine, R.; Gago, A. M.; Galindo, R.; Gallagher, H.; Ghosh, A.; Golan, T.; Gran, R.; Harris, D. A.; Higuera, A.; Kiveni, M.; Kleykamp, J.; Kordosky, M.; Le, T.; Maher, E.; Manly, S.; Mann, W. A.; Marshall, C. M.; Martinez Caicedo, D. A.; McFarland, K. S.; McGivern, C. L.; McGowan, A. M.; Messerly, B.; Miller, J.; Mislivec, A.; Morfín, J. G.; Mousseau, J.; Muhlbeier, T.; Naples, D.; Nelson, J. K.; Norrick, A.; Osta, J.; Paolone, V.; Park, J.; Patrick, C. E.; Perdue, G. N.; Rakotondravohitra, L.; Ransome, R. D.; Ray, H.; Ren, L.; Rimal, D.; Rodrigues, P. A.; Ruterbories, D.; Salazar, G.; Schellman, H.; Schmitz, D. W.; Solano Salinas, C. J.; Tagg, N.; Tice, B. G.; Valencia, E.; Walton, T.; Wospakrik, M.; Zavala, G.; Zegarra, A.; Zhang, D.; Ziemer, B. P.

    Physical review letters, 02/2016, Letnik: 116, Številka: 8
    Journal Article