Bambade, P.; Alabau Pons, M.; Amann, J.; Angal-Kalinin, D.; Apsimon, R.; Araki, S.; Aryshev, A.; Bai, S.; Bellomo, P.; Bett, D.; Blair, G.; Bolzon, B.; Boogert, S.; Boorman, G.; Burrows, P. N.; Christian, G.; Coe, P.; Constance, B.; Delahaye, J.-P.; Deacon, L.; Elsen, E.; Faus-Golfe, A.; Fukuda, M.; Gao, J.; Geffroy, N.; Gianfelice-Wendt, E.; Guler, H.; Hayano, H.; Heo, A.-Y.; Honda, Y.; Huang, J. Y.; Hwang, W. H.; Iwashita, Y.; Jeremie, A.; Jones, J.; Kamiya, Y.; Karataev, P.; Kim, E.-S.; Kim, H.-S.; Kim, S. H.; Komamiya, S.; Kubo, K.; Kume, T.; Kuroda, S.; Lam, B.; Lyapin, A.; Masuzawa, M.; McCormick, D.; Molloy, S.; Naito, T.; Nakamura, T.; Nelson, J.; Okamoto, D.; Okugi, T.; Oroku, M.; Park, Y. J.; Parker, B.; Paterson, E.; Perry, C.; Pivi, M.; Raubenheimer, T.; Renier, Y.; Resta-Lopez, J.; Rimbault, C.; Ross, M.; Sanuki, T.; Scarfe, A.; Schulte, D.; Seryi, A.; Spencer, C.; Suehara, T.; Sugahara, R.; Swinson, C.; Takahashi, T.; Tauchi, T.; Terunuma, N.; Tomas, R.; Urakawa, J.; Urner, D.; Verderi, M.; Wang, M.-H.; Warden, M.; Wendt, M.; White, G.; Wittmer, W.; Wolski, A.; Woodley, M.; Yamaguchi, Y.; Yamanaka, T.; Yan, Y.; Yoda, H.; Yokoya, K.; Zhou, F.; Zimmermann, F.