E-viri
Recenzirano
-
Park, Mi H; Jang, Young J; Sung-Suh, Hyung M; Sung, Myung M
Langmuir, 03/2004, Letnik: 20, Številka: 6Journal Article
We demonstrate a selective atomic layer deposition of TiO2 thin films on patterned alkylsiloxane self-assembled monolayers. Microcontact printing was done to prepare patterned monolayers of the alkylsiloxane on Si substrates. The patterned monolayers define and direct the selective deposition of the TiO2 thin film using atomic layer deposition. The selective atomic layer deposition is based on the fact that the TiO2 thin film is selectively deposited only on the regions exposing the silanol groups of the Si substrates because the regions covered with the alkylsiloxane monolayers do not have any functional group to react with precursors.
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.