E-viri
Recenzirano
Odprti dostop
-
Jones, Jacob L.; LeBeau, James M.; Nikkel, Jason; Oni, Adedapo A.; Dycus, J. Houston; Cozzan, Clayton; Lin, Fang‐Yin; Chernatynskiy, Aleksandr; Nino, Juan C.; Sinnott, Susan B.; Mhin, Sungwook; Brennecka, Geoff L.; Ihlefeld, Jon
Advanced materials interfaces, 07/2015, Letnik: 2, Številka: 10Journal Article
Scanning transmission electron microscopy is utilized to reveal atomic‐level interactions that occur during thermal processing at thin film oxide‐metal interfaces, as described by J. L. Jones and co‐workers in article 1500181. These observations, combined with in situ X‐ray diffraction and theoretical techniques, are used to determine how solution‐processed lead zirconate titanate (PZT) films nucleate on Pt electrodes, results that will guide future ferroelectric film processing.
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.