Sugiyama, Y.; Ahn, J.K.; Banno, S.; Beckford, B.; Campbell, M.; Chen, S.H.; Comfort, J.; Duh, Y.T.; Hineno, T.; Hsiung, Y.B.; Hutcheson, M.; Iwai, E.; Kamiji, I.; Kawasaki, N.; Kim, E.J.; Kim, J.L.; Kim, Y.J.; Ko, J.W.; Komatsubara, T.K.; Kurilin, A.S.; Lee, J.W.; Lee, S.K.; Lim, G.Y.; Lin, C.; Lin, Q.; Luo, Y.; Ma, J.; Maeda, Y.; Masuda, T.; Matsumura, T.; Mcfarland, D.; Murayama, R.; Naito, D.; Nakagiri, K.; Nakaya, Y.; Nanjo, H.; Nomura, T.; Odani, Y.; Redeker, J.C.; Ri, Y.D.; Sasao, N.; Sato, K.; Seki, S.; Shimogawa, T.; Shinkawa, T.; Shinohara, S.; Shiomi, K.; Su, S.; Suzuki, S.; Tajima, Y.; Takahashi, G.; Takashima, Y.; Tecchio, M.; Togawa, M.; Tung, Y.C.; Wah, Y.W.; Watanabe, H.; Whallon, N.; Woo, J.K.; Xu, J.; Yamanaka, T.; Yanagida, Y.; Yoshida, H.Y.; Yoshimoto, H.