Sugiyama, Y.; Ahn, J. K.; Banno, S.; Beckford, B.; Campbell, M.; Chen, S. H.; Comfort, J.; Duh, Y. T.; Hineno, T.; Hsiung, Y. B.; Hutcheson, M.; Iwai, E.; Kamiji, I.; Kawasaki, N.; Kim, E. J.; Kim, J. L.; Kim, Y. J.; Ko, J. W.; Komatsubara, T. K.; Kurilin, A. S.; Lee, J. W.; Lee, S. K.; Lim, G. Y.; Lin, C.; Lin, Q.; Luo, Y.; Ma, J.; Maeda, Y.; Masuda, T.; Matsumura, T.; Mcfarland, D.; Murayama, R.; Naito, D.; Nakagiri, K.; Nakaya, Y.; Nanjo, H.; Nomura, T.; Odani, Y.; Redeker, J. C.; Ri, Y. D.; Sasao, N.; Sato, K.; Seki, S.; Shimogawa, T.; Shinkawa, T.; Shinohara, S.; Shiomi, K.; Su, S.; Suzuki, S.; Tajima, Y.; Takahashi, G.; Takashima, Y.; Tecchio, M.; Togawa, M.; Tung, Y. C.; Wah, Y. W.; Watanabe, H.; Whallon, N.; Woo, J. K.; Xu, J.; Yamanaka, T.; Yanagida, Y.; Yoshida, H. Y.; Yoshimoto, H.