E-viri
Recenzirano
-
Chien, Y C; Chiang, I H; Wang, J S
Electronics letters, 09/2014, Letnik: 50, Številka: 20Journal Article
The bit cell is a key component that determines the VDDmin and power consumption of a sub-threshold static random access memory. In this paper, a new bit cell with a pnn-type latch structure is proposed. The analysis and measurement results indicate that the pnn bit cell outperforms the conventional bit cells in terms of VDDmin and power reduction.
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.