Akademska digitalna zbirka SLovenije - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Observation of a threshold ...
    Yang, S. B.; Tanida, K.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Atmacan, H.; Babu, V.; Behera, P.; Belous, K.; Bennett, J.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Budano, A.; Chang, P.; Cheon, B. G.; Cho, H. E.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Doležal, Z.; Epifanov, D.; Garg, R.; Gaur, V.; Hadjivasiliou, C.; Hsu, C.-L.; Ishikawa, A.; Iwasaki, Y.; Jang, E.-J.; Ji, Q. P.; Jia, S.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Kichimi, H.; Kim, D. Y.; Kim, Y.-K.; Kindo, H.; Kodyš, P.; Konno, T.; Kovalenko, E.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kumara, K.; Lange, J. S.; Lee, S. C.; Li, C. H.; Li, J.; Li, L. K.; Libby, J.; Liventsev, D.; Luo, T.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Natochii, A.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ono, H.; Pakhlova, G.; Passeri, A.; Patra, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Podobnik, T.; Prim, M. T.; Santelj, L.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Starič, M.; Tenchini, F.; Tsuboyama, T.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; van Tonder, R.; Varner, G.; Vossen, A.; Wang, E.; Wang, M.-Z.; Watanuki, S.; Werbycka, O.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yelton, J.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.

    Physical review. D, 8/2023, Letnik: 108, Številka: 3
    Journal Article