NUK - logo
Faculty of Electrical Engineering, Lj. (FERLJ)
  • Analysis of thin-film detector structures of amorphous silicon for detection of ultraviolet radiation = Analiza tankoplastnih detektorskih struktur iz amorfnega silicija za detekcijo ultravijoličnega sevanja
    Jankovec, Marko
    Type of material - book
    Edition - 1. izd.
    Publication and manufacture - Ljubljana : Fakulteta za elektrotehniko, 2005
    Language - slovenian
    ISBN - 961-243-004-7
    COBISS.SI-ID - 219604992