-
Oplaščevanje ZnO nanodelcev s siliko po in situ in ex situ metodi in priprava kompozita PMMA/ZnO [Elektronski vir] : [predavanje]Japić, Dajana ...V predlaganem delu smo ZnO nanodelce pripravili pri T = 100 °C in različnem volumskem razmerju voda/etilen glikol. Morfologijo delcev smo spremljali z vrstično elektronsko mikroskopijo (SEM) in ... transmisijsko elektronsko mikroskopijo (TEM). Opaženi sta bili dve različni morfologiji ZnO nanodelcev (heksagonalna povprečne velikosti delcev .150 nm in sferična povprečne velikosti delcev .50 nm). Nanodelce ZnO smo oplaščevali z tetraetil ortosilikatom (TEOS) z in situ in ex situ metodama. Preliminarni rezultati oplaščevanja z in situ metodo so pokazali, da se spremeni morfologija in kemična sestava delcev. Debelina plasti silike na površini ZnO nanodelcev, pripravljenih z oplaščevanjem po ex situ metodi je bila 4-18 nm. TEM analize oplaščenih delcev z in situ metodo potrjujejo nedefinirano obliko delcev, prav tako pa smo v vzorcih v IR spektru potrdili prisotnost cink silikata. Z uporabo ex situ metode smo delce uspeli popolnoma oplastiti. Vse delce smo okarakterizirali z različnimi metodami: XRD, FT-IR in UV-VIS spektroskopijo in SEM mikroskopijo z možnostjo energijske disperzijske spektroskopije rentgenskih žarkov (EDS). Z EDS smo ugotovili, da je prisotnost Si v vzorcu, pripravljenem po in situ metodi, veliko nižja kot v primeru ex situ metode. Izvedli smo meritve fotokatalitskih lastnosti in zeta potenciala oplaščenih in neoplaščenih ZnO delcev. Delce (oplaščene in neoplaščene ZnO) smo nadalnje uporabili za pripravo nanokompozitov PMMA/ZnO z radikalsko verižno polimerizacijo metilmetakrilata (MMA).Source: Slovenski kemijski dnevi 2012, Portorož, 12.-14. september 2012 [Elektronski vir] = Slovenian Chemical Days 2012, Portorož, September 12-14, 2012 (Str. [1-6])Type of material - conference contributionPublish date - 2012Language - slovenianCOBISS.SI-ID - 36201733
Author
Japić, Dajana |
Marinšek, Marjan, kemijski inženir |
Djerdj, Igor |
Crnjak Orel, Zorica
Topics
anorganska kemijska tehnologija |
nanotehnologija |
nanomateriali |
nanodelci |
priprava nanodelcev |
oplaščevanje |
TEOS |
karakterizacija nanodelcev |
mikrostruktura |
vrstična elektronska mikroskopija |
SEM |
spektroskopija |
silika |
kompoziti |
ZnO |
ZnO
Shelf entry
Permalink
- URL:
Impact factor
Access to the JCR database is permitted only to users from Slovenia. Your current IP address is not on the list of IP addresses with access permission, and authentication with the relevant AAI accout is required.
Year | Impact factor | Edition | Category | Classification | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Select the library membership card:
DRS, in which the journal is indexed
Database name | Field | Year |
---|
Links to authors' personal bibliographies | Links to information on researchers in the SICRIS system |
---|---|
Japić, Dajana | 32111 |
Marinšek, Marjan, kemijski inženir | 14115 |
Djerdj, Igor | |
Crnjak Orel, Zorica | 07254 |
Select pickup location:
Material pickup by post
Notification
Subject headings in COBISS General List of Subject Headings
Select pickup location
Pickup location | Material status | Reservation |
---|
Please wait a moment.