E-resources
-
Lai, Lianfeng; Gao, Chenhui; Huang, Jianmeng
Tehnički vjesnik, 10/2017, Volume: 24, Issue: 5Paper
Konstruiran je mikro-nano model za brušenje s fraktalnom površinom, kojim se razmatraju oštećenja materijala zbog istrošenosti i adhezivni učinci u postupku dodira. Dinamički se razmatraju i promjene u deformaciji hrapavosti tijekom brušenja. Za simuliranje područja deformacije u postupku brušenja primijenjena je metoda konačnih elemenata. Pokazano je da što je veća smična čvrstoća na graničnoj površini na istoj udaljenosti brušenja, to je veća ekvivalentna plastična deformacija, a gruba površina se lakše izlaže trošenju i kidanju. Maksimalna točka plastične deformacije određuje početno mjesto pojave pukotine, bilo na površini ili na nekoj udaljenosti od površine. Isto tako, što je veće jednako raspoređeno normalno opterećenje, to je veća maksimalna plastična deformacija hrapavosti na početku dodira, a to određuje i raniju pojavu inicijalnih pukotina. Nadalje, što je veća brzina brušenja, to je veća udaljenost na kojoj se dvije interaktivne dodirne površine počinju trošiti. Analizirajući raspodjelu područja deformacije ugrađene hrapavosti, istražuju se stvarni uzroci brušenja i trošenja materijala u mikro-nano mjerilu.
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Shelf entry
Permalink
- URL:
Impact factor
Access to the JCR database is permitted only to users from Slovenia. Your current IP address is not on the list of IP addresses with access permission, and authentication with the relevant AAI accout is required.
Year | Impact factor | Edition | Category | Classification | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Select the library membership card:
If the library membership card is not in the list,
add a new one.
DRS, in which the journal is indexed
Database name | Field | Year |
---|
Links to authors' personal bibliographies | Links to information on researchers in the SICRIS system |
---|
Source: Personal bibliographies
and: SICRIS
The material is available in full text. If you wish to order the material anyway, click the Continue button.