NUK - logo
Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani (CTK)
Celotno besedilo
  • Variation tolerant on-chip interconnects [Elektronski vir]
    Nigussie, Ethiopia Enideg
    Vrsta gradiva - e-knjiga
    Založništvo in izdelava - New York, NY : Springer, ©2012
    Jezik - angleški
    ISBN - 978-1-4614-0131-5; 1-4614-0131-3
    COBISS.SI-ID - 1544629215

    Povezava(-e):

    SpringerLink e-books 2008-2012

    Celotno besedilo dostopno za uporabnike SpringerLink slovenskega konzorcija neprofitnih institucij

    Full text accessible to the users of SpringerLink Slovenian Consortium of Non-Profit Institutions


    DOI