NUK - logo
Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani (CTK)
Celotno besedilo
  • Statistical performance analysis and modeling techniques for nanometer VLSI designs [Elektronski vir]
    Shen, Ruijing
    Vrsta gradiva - e-knjiga
    Založništvo in izdelava - New York : Springer, cop. 2012
    Jezik - angleški
    ISBN - 978-1-4614-0788-1; 1-4614-0788-5; 1-4614-0787-7; 978-1-4614-0787-4
    COBISS.SI-ID - 1544927199

    Povezava(-e):

    SpringerLink e-books 2008-2012

    Celotno besedilo dostopno za uporabnike SpringerLink slovenskega konzorcija neprofitnih institucij

    Full text accessible to the users of SpringerLink Slovenian Consortium of Non-Profit Institutions


    DOI