-
Statistical performance analysis and modeling techniques for nanometer VLSI designs [Elektronski vir]Shen, RuijingVrsta gradiva - e-knjigaZaložništvo in izdelava - New York : Springer, cop. 2012Jezik - angleškiISBN - 978-1-4614-0788-1; 1-4614-0788-5; 1-4614-0787-7; 978-1-4614-0787-4COBISS.SI-ID - 1544927199
Povezava(-e):
SpringerLink e-books 2008-2012Celotno besedilo dostopno za uporabnike SpringerLink slovenskega konzorcija neprofitnih institucij
Full text accessible to the users of SpringerLink Slovenian Consortium of Non-Profit Institutions
DOI
Avtor
Shen, Ruijing
Drugi avtorji
Tan, Sheldon X. D. |
Yu, Hao
Teme
Integrated circuits |
Very large scale integration |
Computer-aided design |
Circuits and Systems |
Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design |
Nanotechnology and Microengineering |
Integrated circuits |
Very large scale integration |
Computer-aided design |
Ingénierie |
Electronic books
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.