NUK - logo
Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani (CTK)
  • Elements of electromigration : electromigration in 3D IC technology
    Tu, King-Ning ; Liu, Yingxia
    Vrsta gradiva - knjiga ; neleposlovje za odrasle
    Izdaja - 1st ed.
    Založništvo in izdelava - Boca Raton ; London ; New York : CRC Press, Taylor & Francis, 2024
    Jezik - angleški
    ISBN - 978-1-03-247027-6
    COBISS.SI-ID - 190678019
    DOI

Rezervirajte gradivo na želenem mestu prevzema.

Mesto prevzema Status gradiva Rezervacija
Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani
prosto - na dom, čas izposoje: 14 dni
Signatura – lokacija, inventarna št. ... Status izvoda
ELE-C 0000246301 Prosti pristop
IN: 120240267
ELE-C 246301 Prosti pristop
IN: 120240267
prosto - na dom, čas izposoje: 14 dni
loading ...
loading ...
loading ...