-
Statistical pattern classification with electric circuitsKokelj, PeterVir: Pattern recognition letters : an official publication of the International Association for Pattern Recognition. - ISSN 0167-8655 (Vol. 17, 1996, str. 251-262)Vrsta gradiva - članek, sestavni del ; neleposlovje za odrasleLeto - 1996Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 1689172
Avtor
Kokelj, Peter
Teme
normalna porazdelitev |
aproksimacija |
porazdelitvene funkcije |
dekorelacija |
klasifikacija vzorcev |
minimalno tveganje |
odločitveno pravilo |
analogna oblika porazdelitvene funkcije |
Bayesov klasifikator |
hitrost procesiranja |
normal distribution |
approximation |
distribution functions |
decorrelation |
pattern classification |
minimum risk |
decision rule |
distribution function analog form |
Bayesian classifier |
processing speed
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
vir: Pattern recognition letters : an official publication of the International Association for Pattern Recognition. - ISSN 0167-8655 (Vol. 17, 1996, str. 251-262)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Kokelj, Peter | 01960 |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.